เครื่องวิเคราะห์แผนที่ธาตุ โดยการเรืองรังสีเอ็กซ์ระดับจุลภาค (Micro-XRF spectrometer)

รุ่น M4 TORNADOPLUS  ยี่ห้อ BRUKER 

         เป็นเครื่องมือที่ใช้สำหรับวิเคราะห์หาชนิดและปริมาณธาตุ และทำแผนที่ธาตุ (Elemental mapping) เพื่อดูการกระจายตัวของธาตุโดยไม่ทำลายองค์ประกอบของตัวอย่าง สามารถวิเคราะห์ธาตุได้ทั้งเชิงคุณภาพและเชิงปริมาณ ตั้งแต่ คาร์บอน (C) ขึ้นไป ในปริมาณธาตุได้ต่ำสุดถึง 0.01 เปอร์เซ็นต์โดยน้ำหนัก (wt.%) สามารถใช้วัดความหนาในแต่ละชั้นของพื้นผิวได้

ข้อมูลทางเทคนิค

  • สามารถวิเคราะห์ธาตุได้ตั้งแต่คาร์บอน (C) ถึง อะเมอริเซียม (Am)
  • แหล่งกำเนิดเอ็กซเรย์ชนิด Rhodium (Rh) ระบบออฟติค ชนิด Polycapillary
  • แรงดันไฟฟ้าแหล่งกำเนิดรังสีเอ็กซ์ 50 kV
  • Spot size ขนาด 20 ไมโครเมตร
  • มีตัวรับสัญญาณ Silicon drift detector (SDD) จำนวน 2 ตัว แต่ละตัวมีพื้นที่รับขนาด 50mm2
  • มีความละเอียดในการแยกแยะพลังงานน้อยกว่า 145 eV เมื่อวัดด้วย MnK
  • มีกล้องสำหรับปรับความคมชัดของภาพที่ 10X และ 100X
  • สามารถทำ elemental mapping ในครั้งเดียวกัน ขนาดสูงสุด 190 มิลิเมตร x 160 มิลลิเมตร
  • สามารถเลือกใช้งานได้ 3 สภาวะ ได้แก่ ความดันอากาศปกติ (Atmosphere) ระบบความดันสุญญากาศ (Vacuum pressure) และระบบไล่อากาศด้วยแก๊สฮีเลียม (He purge)
  • ห้องใส่ตัวอย่างมีขนาด กว้าง x ลึก x สูง เท่ากับ 600 x 350 x 260 มิลลิเมตร
  • สามารถรับน้ำหนักตัวอย่างได้สูงสุด 7 กิโลกรัม

ติดต่อสอบถาม: ห้องปฏิบัติการจุลทรรศน์อิเล็กตรอน ชั้น 1 สถาบันบริการตรวจสอบคุณภาพและมาตรฐานผลิตภัณฑ์
อาคารเฉลิมพระเกียรติสมเด็จพระเทพรัตนราชสุดา มหาวิทยาลัยแม่โจ้

  053-875652   serviceiqs   IQS Maejo   serviceiqs@gmail.com


ปรับปรุงข้อมูล 16/9/2565 14:58:37
, จำนวนการเข้าดู 0