เครื่องวิเคราะห์แผนที่ธาตุ โดยการเรืองรังสีเอ็กซ์ระดับจุลภาค (Micro-XRF spectrometer)
รุ่น M4 TORNADOPLUS ยี่ห้อ BRUKER
เป็นเครื่องมือที่ใช้สำหรับวิเคราะห์หาชนิดและปริมาณธาตุ และทำแผนที่ธาตุ (Elemental mapping) เพื่อดูการกระจายตัวของธาตุโดยไม่ทำลายองค์ประกอบของตัวอย่าง สามารถวิเคราะห์ธาตุได้ทั้งเชิงคุณภาพและเชิงปริมาณ ตั้งแต่ คาร์บอน (C) ขึ้นไป ในปริมาณธาตุได้ต่ำสุดถึง 0.01 เปอร์เซ็นต์โดยน้ำหนัก (wt.%) สามารถใช้วัดความหนาในแต่ละชั้นของพื้นผิวได้
ข้อมูลทางเทคนิค
- สามารถวิเคราะห์ธาตุได้ตั้งแต่คาร์บอน (C) ถึง อะเมอริเซียม (Am)
- แหล่งกำเนิดเอ็กซเรย์ชนิด Rhodium (Rh) ระบบออฟติค ชนิด Polycapillary
- แรงดันไฟฟ้าแหล่งกำเนิดรังสีเอ็กซ์ 50 kV
- Spot size ขนาด 20 ไมโครเมตร
- มีตัวรับสัญญาณ Silicon drift detector (SDD) จำนวน 2 ตัว แต่ละตัวมีพื้นที่รับขนาด 50mm2
- มีความละเอียดในการแยกแยะพลังงานน้อยกว่า 145 eV เมื่อวัดด้วย MnK
- มีกล้องสำหรับปรับความคมชัดของภาพที่ 10X และ 100X
- สามารถทำ elemental mapping ในครั้งเดียวกัน ขนาดสูงสุด 190 มิลิเมตร x 160 มิลลิเมตร
- สามารถเลือกใช้งานได้ 3 สภาวะ ได้แก่ ความดันอากาศปกติ (Atmosphere) ระบบความดันสุญญากาศ (Vacuum pressure) และระบบไล่อากาศด้วยแก๊สฮีเลียม (He purge)
- ห้องใส่ตัวอย่างมีขนาด กว้าง x ลึก x สูง เท่ากับ 600 x 350 x 260 มิลลิเมตร
- สามารถรับน้ำหนักตัวอย่างได้สูงสุด 7 กิโลกรัม
|